| Главная |
| Поиск по сайту |
Адрес этой страницы' ?>
<<Предыдущая страница Оглавление книги Следующая страница>>Двойные микроскопы
Двойные микроскопы предназначены для оценки поверхностей, чистота обработки которых 3—9-го класса.
Рис. 186. Схема двойного микроскопа В. П. Линника
Схема двойного микроскопа В. П. Линника показана на рис. 186. Луч света от источника 1, проходя через линзы тубуса 2 и щель диафрагмы, падает на оцениваемую поверхность под углом 45° и создает световое сечение профиля, наблюдаемое через объектив 3и окуляр 5 в виде светящейся линии.
На окуляре имеется сетка 4 со шкалой для отсчета высоты наблюдаемых искривлений светящейся линии. Для получения истинных значений высот микронеровностей на оцениваемой поверхности значения, отсчитанные по шкале объектива, пересчитывают по определенной формуле.
Для измерения высот микронеровностей тонко обработанных поверхностей (9—14-й класс) применяют микроинтерферометры, основанные на явлении интерференции света. При разделении пучка света на две части и направлении их разными путями с последующим их слиянием опять в один пучок вследствие разной длины путей, проходимых разными частями пучка света, возникнет интерференция света. Измеряя искажения интерференционных полос, наблюдаемых в микроинтерферометре, и производя соответствующие расчеты, определяют величину микронеровностей на оцениваемой поверхности. Чувствительность изготовляемых в СССР микроинтерферометров В. П. Линника 0,02 мк.