Научная книга Поиск по сайту
Главная
Поиск по сайту

Раздел: БИБЛИОТЕКА ТЕХНИЧЕСКОЙ ЛИТЕРАТУРЫ
Короткий путь http://bibt.ru

Адрес этой страницы

Оглавление книги Вперед Назад

§ 2. Оценка шероховатости обработанной поверхности

Шероховатостью поверхности называют совокупность неровностей с относительно малыми шагами, образующих рельеф поверхности и рассматриваемых в пределах малого участка длины. Шероховатость образуется в результате обработки поверхности (независимо от метода обработки) и может представлять собой сочетание наложенных друг на друга неровностей с различными шагами.

Для определения шероховатости поверхности применяются специальные приборы — профилографы, профилометры, микроинтерферометры, сравнительные микроскопы и др., которые подразделяются по способу измерения на две группы: контактные (электрические) и бесконтактные (оптические).

Сущность устройства приборов контактного действия заключается в том, что по контролируемой поверхности перемещается игла (стальная или алмазная), вертикальные смещения которой, соответствующие высотам микронеровностей, увеличиваются электрическим, оптическим или механическим способом и регистрируются отсчетным устройством.

Бесконтактные приборы дают более точные показания, но не производят автоматической записи величин наблюдаемых отклонений.

Эталоны для сравнения класса чистоты
Рис. 18. Эталоны для сравнения класса чистоты

В условиях цеха, чтобы отнести шероховатость контролируемой поверхности к тому или иному классу, применяют специальные образцы, представляющие собой набор стальных пластинок (рис. 18), обработанных до определенного класса чистоты. Визуальное сравнение поверхностей образцов с обработанной поверхностью дает основание отнести обработку поверхности детали к тому или иному классу чистоты.

Образцы шероховатости поверхности выпускаются инструментальной промышленностью в виде наборов № 1, 2, 3 и 4. Для пользования при изготовлении технологической оснастки наиболее удобен набор № 3, включающий 25 шт. стальных закаленных пластинок, обработанных до 6 — 13-го классов чистоты.

Оценка шероховатости поверхности, обработанной выше 8-го класса, в значительной степени зависит от опыта контролирующего, вида и степени освещения (дневной свет, лампа накаливания, направленный или рассеянный свет и т. д.), поэтому для точного сравнения на заводах применяют специальные микроскопы сравнения. Эти микроскопы позволяют одновременно рассматривать проверяемую деталь и образец поверхности, которые в поле зрения микроскопа видны расположенными рядом при одинаковом увеличении и одинаковых условиях освещения.

Цеховые приборы для определения шероховатости поверхностей
Рис. 19. Цеховые приборы для определения шероховатости поверхностей: а — микроскоп сравнения ЛИТМО, б — двойной микроскоп сравнения МИС-11

На рис. 19, а показан портативный микроскоп сравнения ЛИТМО, установленный на нормальном штативе обычного биологического микроскопа. Микроскоп имеет постоянную фокусировку на поверхности изделия и образца, которая достигается при закреплении образца винтом в гнезде микроскопа и при соприкосновении трубки объектива с проверяемой поверхностью, что значительно упрощает процесс контроля.

Микроскоп ЛИТМО может быть использован и как Переносной прибор накладного типа. Для этого его снимают со штатива и прижимают трубкой к проверяемой поверхности изделия. Микроскоп имеет постоянное увеличение в 70 раз и поле зрения 1,7 мм. Он обеспечивает оценку шероховатости поверхности до 12-го класса чистоты и успешно применяется для цехового контроля.

Микроскопы сравнения других типов имеют сменные объективы и окуляры, позволяющие менять степень увеличения в пределах от 15 до 200 раз. Большие увеличения применяются при определении высших классов чистоты.

Для определения шероховатости поверхности и измерения высоты микронеровностей в лабораторных условиях применяются значительно более сложные оптические приборы — двойные микроскопы, микроинтерферометры, а также электрические контактные (щуповые) приборы — профилометры и профилографы. Последние позволяют не только определить шероховатость контролируемой поверхности, но и записать ее профиль на ленту.

На рис. 19, б показан внешний вид двойного микроскопа МИС-11, основанного на принципе светового сечения, разработанного акад. В. П. Линником.

Оглавление книги Вперед Назад

Перейти вверх к навигации
Перепечатка материалов запрещена.
Помогите другим людям найти библиотеку разместите ссылку: